光譜測定應用于鑒別特定樣品微觀實驗顯微鏡
螢光顯微鏡技術(shù)可以容易地推廣到包括從單個包裹體發(fā)射的光譜進
行測定等方法中去。在我們的儀器中,單色儀與帶有纖維光電纜的顯微
照相管相聯(lián)
由于光譜測定可以對兩種樣品中產(chǎn)狀不同的螢光包裹體進行對比(
即在一個樣品中為原生的,在另一樣品中為次生的),故十分有用。該方
法還允許對來自地表的、地下滲出的或者有經(jīng)濟價值油儲的含大量石
油的各個包裹體進行比較。在對古生代含油碳酸鹽固結(jié)物的研究中,
將光譜測定應用于鑒別特定的顯微破裂作和碳氫化合物遷移事件,
后者指的是石油充填于晶洞和化石洞穴。對于流體包裹體的研究,在光
學技術(shù)上最重要的進步也許就是顯微鏡聚焦激光拉曼( Raman)光譜學
碳氫化合物流體包裹體產(chǎn)狀碳氫化合物包裹體可以以其他任何包裹
體所具有的各種產(chǎn)狀存在,原生、假次生和次生包裹體。產(chǎn)狀最重要的
意義是,它能夠提供特定世代碳氫化合物包裹體捕獲時間的信息。
顯微照片中部的箭頭所指的是晶體核心外側(cè)的兩個發(fā)出淡蘭色螢
光的原生兩相包裹體。這些原生包裹體代表各種碳氫化合物流體,它們
曾經(jīng)以分散的小滴存在于含水相中。這些微滴偶而會落到正在生長的
面上,并且當晶面繼續(xù)生長時被捕獲。
極少數(shù)含水包裹體也會沿這些生長環(huán)帶生長,它們基本上不含有分
離的發(fā)螢光碳氫化合物液相。顯微照片對AB中還可見到沿愈合微裂隙
分布的次生包裹體沿曲線軌跡分布的包裹體切過生長帶。許多這樣的
軌跡還切過第二世代脈狀充填的白云石。螢光顯微鏡還揭示了另外的
巖相學細節(jié)。小的微裂隙通常局限于第一世代的鐵方解石,這種方解石
含有能發(fā)出金黃色螢光的包裹體(假次生)。切過方解石和白云石的廣
泛的微裂隙系統(tǒng)含有能發(fā)出照亮蘭自色螢光的包襄體。基于碳氫化合
物的包裹體的產(chǎn)狀,以及龜甲脈狀質(zhì)充填物中碳氫化合物包裹體發(fā)出的
螢光的差別,我們可以明顯地區(qū)分幾次碳氫化合物遷移事件。一種可能
性是
