顯微鏡顆粒測量儀器簡介-顯微清潔度等級(jí)測量？

解答：

利用顯微鏡將粉粒體放大，不僅可以直接量測粉粒體的粒徑，還可以看見粉粒體的形狀，較小可量測至 0.1奈米。

但傳統(tǒng)的人工逐一的測量單一顆粒的粒徑再加以統(tǒng)計(jì)分析，不但耗費(fèi)大量時(shí)間及人力且受人為因素影響極大，

因此較不適用于工業(yè)產(chǎn)品品質(zhì)檢測之用

所以搭配全自動(dòng)顯微油污等級(jí)分析系統(tǒng)可以克服以上缺點(diǎn)

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與X 光繞射法比較 光繞射法有哪些缺點(diǎn)？

解答：光繞射法即是利用繞射原理，以激光撞擊粉粒體表面

量測其反射光的角度，將各個(gè)數(shù)據(jù)資料加以統(tǒng)計(jì)分析即可計(jì)算出粉粒體粒徑大小及分布特性。
此法僅能測得粉粒體的平均粒徑，無法測得其粒徑分佈且所得的粒徑資料有限、準(zhǔn)確度差及儀器價(jià)格昂貴

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