碳酸鹽巖儲集層雙折射分析圖像光學顯微鏡
橫波雙折射是目前預測各類儲層裂縫的有效方法，能可靠地預測裂縫
帶的存在及其主要走向。也可估算裂縫密度。該方法尚處于初勘階段，是
大有發(fā)展?jié)摿Φ摹?BR> 高分辨率勘探技術(shù)
碳酸鹽巖儲層厚度通常較小，特別是縫洞性儲層，橫向分布范圍有限
，常規(guī)的地震資料往往不能分辨這些厚度較小、延伸范圍較窄的儲集層。
因此，必須采用高分辨地震勘探技術(shù)。高分辨率勘探所獲得的地震資料是
利用各種地震預測技術(shù)進行儲層橫向預測的基礎(chǔ)和主要信息來源。同時，
提高地震勘探的分辨率也是目前及其今后物探技術(shù)的主要任務。
地震勘探的分辨率是地震資料沿垂直方向所能分辨最薄層厚度和沿水
平方向所能分辨最小地質(zhì)體寬度的能力。高分辨率地震勘探技術(shù)是通過專
門的地震資料野外采集、室內(nèi)處理和解釋方法來努力提高地震剖面分辨率
的一項技術(shù)。高分辨率地震剖面與常規(guī)地震剖面相比，其分辨地層的能力
有明顯的提高。因此，高分辨率地震剖面對碳酸鹽巖的裂縫層、薄孔洞層
、規(guī)模較小的礁體以及小幅度構(gòu)造和下裂縫伴生的小斷層等都有不同程度
的反映，這對利用地震技術(shù)預測碳酸鹽巖儲集層創(chuàng)造了條件。
由于碳酸鹽儲層特別是裂縫性儲層發(fā)育規(guī)律十分復雜，其勘探難度很
大。而每一種緒層預測地震技術(shù)都是以碳酸鹽巖儲層地震響應中某方向的
特征為基礎(chǔ)，這在解決實際地質(zhì)問題時都存在多解性和局限性。如果只利
用某種物探方法或某種物探資料或地震信息來解決復雜的碳酸鹽巖儲層問
題，這顯然是很困難的或無能為力的。但是，各項地震信息反映的都是同
一地層，它們之間是相互聯(lián)系的。因此，只是綜合分析、統(tǒng)計處理各種與
碳酸鹽
